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存储器内建自测设计与分析

杨修涛;鲁巍;李晓维

  作为可测性设计的一种,MBIST(Memory Built-in Self-test)是在电路内部置入测试电路以对Memory进行测试,它的好处是可以节省测试时间;减少测试向量的存放空间;可以很好地降低测试成本。本文基于一个实际项目介绍了有关Memory BIST的设计过程和设计分析,并给出部分结果。……   
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