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金属分子结纳米间隔体系的针尖增强拉曼光谱研究

任斌;刘郑;陈招斌;丁松园;王翔;吴德印;毛秉伟;田中群

  随着分子电子学的快速发展,人们正在发展各种的方法试图对分子结的性质有较为深入的理解,如dI/dv,IETS等方法。但这些技术对环境要求苛刻(超低温等),并且很难达到单分子检测水平。表面增……   
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