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混合边界扫描典型元件的特性试验

刘思久;黄辉;李萌

  针对电子功能模件可测性设计实际实现的具体需要,本文以支持IEEE1149.4混合电路边界扫描测试的芯片STA400作为典型元件。阐述其基本内核功能和边界扫描功能的操作原理、应用方式和试验方法,并在测试其实际性能的基础上,提出了对该元件具体使用的看法,提供了颇有参考价值的试验结果。……   
[关键词]:边界扫描测试;模拟开关;可测性设计
[文献类型]:会议论文
[文献出处]: 《第三届全国虚拟仪器大会论文集2008年
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