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集成电路可测性设计

杨虹;吕坤颐;陈柘宇;侯华敏

  随着集成电路规模的不断增大,芯片的可测性设计正变得越来越重要。主要研究目前较常用的边界扫描测试技术的原理、结构,并给出了边界扫描技术的应用。重点研究了基于边界扫描的外测试方式,即电路板上芯片间连线的固定故障、开路和短路故障的测试;利用硬件描述语言Verilog设计出TAP控制器,得到TAP状态机的仿真结果。……