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V对Ti-V合金材料微观结构的影响研究

李宏发;龙兴贵;郝万立;刘锦华;张涛

  本文叙述了V含量从wt(0~10%)的Ti-V合金材料用XRD检测的结果,合金材料均为α结构,吸氢后均为fcc结构。在2 θ小于90°时,给出了精确计算晶胞参数的方法。所研究的Ti-V合金晶胞参数的a值随V含量的增加而一直减小,而c值开始减小,尔后迅速增大。对这种现象给出了解释。……   
[关键词]:合金;X射线衍射;晶体结构;晶胞参数
[文献类型]:会议论文
[文献出处]: 《第八届全国核靶技术学术交流会论文摘要集2004年
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