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一种基于LFSR与MARCH C+算法的SRAM内建自测电路设计

焦慧芳;张小波;贾新章

  本文提出了一种基于LFSR与MARCH C+算法的SRAM内建自测试新结构,基于此结构设计了2K×8 嵌入式静态存储器(SRAM)的内建自测电路,给出了电路的仿真与综合结果。文章对比分析了这种新结构与传统结构的特性,指出这种新结构具有可复用性、面积较小、速度较快、故障覆盖率高等优点,是一种实用的、可推广应用的内建自测试结构。……   
[关键词]:LFSR;MARCH C+;VerilogHDL;SRAM;内建自测试;综合
[文献类型]:会议论文
[文献出处]: 《第十一届全国可靠性物理学术讨论会论文集2005年
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