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大功率半导体激光器老化筛选及寿命试验系统

路国光;雷志峰;杨少华;黄云

  本文探讨了半导体激光器老化及寿命测试的用论依据.给出了加速寿命测试的数学模型,并据此研制了大功率半导体激光器老化筛选及寿命试验系统,该系统具备温度、电流不同应力以及不同应力水平进行加速寿命试验的功能。……