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1/f噪声源与其在半导体可靠性评估中的应用

刘鹏飞;郭春生;李秀宇;李志国

  1/f噪声,由于其能够反映器件的质量与可靠性参数,其研究受到重视。本文首先较为系统地介绍了1/f噪声源两种较为成熟的理论:迁移率涨落模型和载流子涨落模型,最后介绍了几个1/f噪声与半导体器件参数漂移相关的实例。……