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测试会议聚焦MEMS


  今年的测试会议将注意力转向了微电机系统(MEMS)技术。这个领域增长很快,引起了越来越多的测试工程师的关注。 将在9月29日召开的国际测试会议(ITC 2003)包括两个MEMS系列讲座。其中一个介绍性的专题将覆盖MEMS设备的制造工艺。来自Sandia国家实验室和卡耐基梅隆大学的?……   
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