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无线电电子学
高角度环形暗场Z衬度像成像原理及方法
通常的高分辨电子显微镜应用相位衬度成像 ,相位衬度的成像是由于透过样品的各级衍射束相互干涉的结果 ,其衬度取决于衍射束的相对相位关系。在扫描透射电子显微镜中使用高角度环形探测器 ,可以得到原子序数衬度像。介绍了高角度环形暗场 (HAADF)的原子序数衬度 (Z -衬度 )像的成像原理及方法
兵器材料科学与工程
2002年04期

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