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基于SPM技术的表面纳米计量

黄文浩;陈宇航;党学明

  用扫描探针显微镜(SPM)技术观察三维表面形态,可以达到纳米级甚至原子量级的分辨率,所以SPM技术在计量方面有着广阔的应用前景。20年来,人们采用各种理论和方法来提高SPM的精度和稳定性,以适应表面计量领域不断提出的新要求。本文在总结表面规范与建模、高分辨率和高时间稳定性测量、图像解释与表面重建、SPM误差和校准以及纳米对准技术等研究结果的基础上,对今后发展的趋势作了展望。……   
[关键词]:表面;纳米计量;扫描探针显微镜
[文献类型]:期刊
[文献出处]: 《微纳电子技术2004年01期