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透射电镜样品台操作过程的矩阵分析

姚越;刘庆

  通过试验给出了操作透射电镜双倾及旋转倾样品台时,描述样品任一特征矢量变化的变换矩阵。在此基础上,推导出晶体样品位向调整时样品台两轴所需转动角度的计算公式,以及样品台任一操作过程样品实际转动角度的计算公式。利用这些公式可以大大简化许多晶体学问题的研究。……   
[关键词]:透射电镜;矩阵分析;晶体学分析
[文献类型]:期刊
[文献出处]: 《兵器材料科学与工程1992年12期