手机知网 App
24小时专家级知识服务
打 开
手机知网|搜索

针尖增强后电离近场质谱检测纳米粒子

梁志森;孟一凡;杭纬

  随着现代纳米科学与技术的发展,对尺寸为纳米级别的样品进行化学成分的分析显得尤为重要。而基于激光采样的质谱技术,由于收到衍射极限的限制,其空间分辨率一般被局限于微米尺寸而无法满足分析需求。利用复杂透镜组与飞秒脉冲激光[1],可以将横向分辨率下降至75 nm,或者使用价格昂贵的二次离子质谱可以使横向分辨率优化到亚微米级别。随着近场光学的快速发展,引入近场光学技术,如扫描近场光学显微镜技术(SNOM),来提高质谱采样的空间分辨率已有报道[2-3]。但由于受到光通量低和能量耗散大等限制,使用SNOM进行采样,需要后续电离源实现离子化且仅能实现易挥发有机物的分析,该技术的空间分辨率可达亚微米级。使用飞秒激光诱导下的无孔针尖近场增强效应,可以用于对固体金属样品的剥蚀和电离[4],并获取50 nm的横向分辨率。然而由于受到电离效率的影响,只能分析第一电离能不超7.0 eV的样品。为了扩大该技术的分析范围,本工作引入了纳秒激光后电离光路系统,将可分析的样品扩大到8.0 eV,并可以成功分析了单分散的Cr和Co纳米粒子。通过调节延时时间与后电离激光的位置,本工作进行了参数的优化实验。通过拍摄扫描电子显微镜(SEM)和透射电镜(TEM)确认所分析的颗粒直径约为50-100 nm,使用TEM附带的EDS可以确认纳米粒子的成分为Cr。本实验使用飞秒激光诱导的近场增强质谱技术成功获取了纳米Cr粒子的质谱信号,横向分辨率可以达到纳米级别。……   
[关键词]:纳米级横向分辨;纳米粒子分析;固体分析;质谱
[文献类型]:会议论文
[文献出处]: 《第三届全国质谱分析学术报告会摘要集-分会场6:无机质谱2017年
[格式]:PDF原版; EPUB自适应版(需下载客户端)